半干面水分检测仪
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实验室研磨机
实验磨粉机制备有代表性面粉样品,用来预测实际生产面粉的品质• 小麦品质测定,配粉效果评估• 评估磨粉特性(小麦在碾磨过程中的特性和出粉率)
产后康复治疗仪外观
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晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
